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Product Category
chroma 11300 直流重疊測(cè)試系統(tǒng) 主要特色:高效率,正反向電流切換與掃描功能系統(tǒng)穩(wěn)定度高,頻率響應(yīng) : 20Hz到1MHz高準(zhǔn)確度,3%輸出電流準(zhǔn)確度擴(kuò)充性強(qiáng),擴(kuò)增大到100Adc組立式系統(tǒng),
chroma 11200 電容漏電流/絕緣電阻表 主要特色:電解電容器漏電流測(cè)試功能絕緣電阻測(cè)試功能定電流DC電源供應(yīng)含放定功能順向電壓測(cè)試功能,提供二極管Diode
chroma 11800 漣波電流測(cè)試器 主要特色:全數(shù)字控制自動(dòng)定漣波電流,定峰值電壓(= Vdc+Vac_peak)功能,作業(yè)簡(jiǎn)單設(shè)計(jì)四線式治具,確保正確之待測(cè)電容峰值電壓監(jiān)控(申請(qǐng)中)設(shè)計(jì)銅箔對(duì)測(cè)試線
chroma 11802 可程序高頻交流測(cè)試器,主要特色:可程序高頻交流測(cè)試器 Model 11802/11803/11805 高頻耐壓測(cè)試器 Model 11890 高頻高壓耐久性測(cè)試器 Model 11891高頻高壓耐久性測(cè)試(CV定電壓與CC定電流模式)高頻耐壓測(cè)試
chroma 8801 電氣二重層電容自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),主要特色:適用電氣二重層電容生產(chǎn)線測(cè)試,測(cè)試參數(shù)包含靜態(tài)容量(Static Capacitance)與內(nèi)部電阻(IR&ESR)(符合EIAJ RC-2377電氣二重層電容測(cè)試方式)開(kāi)放性架構(gòu)軟件平臺(tái) -支持含有GPIB 或 RS-232接口儀器 -測(cè)試項(xiàng)目編輯功能
chroma 8802 電氣二重層電容漏電流監(jiān)控系統(tǒng),主要特色:適用于長(zhǎng)時(shí)間電氣二重層電容漏電流測(cè)試測(cè)量參數(shù) : 漏電流可程序充電/放電限電流功能,每信道大1安培充放電流的能力可程序充電電壓1μA ~ 100mA范圍,零輸入電阻漏電流表多槽控制功能每槽多200頻道連續(xù)式時(shí)間控制窗口控制軟件可程序漏電容判定值,充電/放電限電流值設(shè)定治具上漏電流GO/NG指示*規(guī)格細(xì)節(jié)可依客戶需求
chroma DSM-8542 超高電阻表/微電流表 主要特色:高速、高精確度量測(cè) -可搭配選PSU-8541大功率電源供應(yīng)器(DSM-8542) -可同時(shí)量測(cè)四組待測(cè)物(DSM-8542) -低輸入阻抗,充電后可立即進(jìn)行量測(cè) -可設(shè)定測(cè)試取樣速度2ms ~ 300ms微小電流量測(cè)分辨率可至0.1fA 量測(cè)用電壓自0.1V起間隔0.1V可設(shè)定量測(cè)電流可至0.1 fA單位內(nèi)建多種量測(cè)功能,提高作業(yè)效
chroma 3360-D VLSI 測(cè)試系統(tǒng),主要特色:50 MHz 測(cè)試頻率32/64 個(gè) I/O 通道8M (標(biāo)準(zhǔn)) /16M (選購(gòu)) Pattern 記憶體彈性化硬體結(jié)構(gòu)平行測(cè)試 : 多 8 DUTsReal Parallel Trim/Match 功能時(shí)序頻率測(cè)試單位